Рентгенофлуоресцентный элементный анализ

Принцип рентгенофлуоресцентного элементного анализа основан на облучении образца первичным излучением рентгеновской трубки, измерении интенсивности вторичного флуоресцентного излучения от образца на длинах волн, соответствующих определяемым элементам, и последующем расчете массовой доли этих элементов по предварительно построенной градуировочной характеристике, представляющей собой зависимость содержания определяемого элемента от измеренной интенсивности.

Спектрометр «Спектроскан МАКС-GVM»

Вакуумный волнодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр «Спектроскан МАКС-GVM» предназначен для определения содержаний элементов в диапазоне от Na до U в веществах, находящихся в твердом, порошкообразном, растворенном состояниях, а также нанесенных на поверхности или осажденных на фильтры. Без применения эталонных образцов возможен качественный и полуколичественный элементный анализ по методу фундаментальных параметров.

Вторичное флуоресцентное излучение разлагается в спектр с помощью кристалла-анализатора. Благодаря этому рентгенофлуоресцентный спектрометр обладает высокой способность к разделению спектральных линий, а значит и возможностью точного анализа сложных многокомпонентных веществ.

Аналитические характеристики

Диапазон определяемых элементов	от Na до U
Пределы обнаружения, LoD	Na: 0,5% (5000 ppm)
	Mg: 0,02% (200 ppm)
	от Al до P: 0,005% (50 ppm)
	от S до U: 0,0002% (2 ppm)
Диапазон определяемых содержаний	от 3LoD до 100%

Ниже представлен пример измеренных спектров стальных образцов: