Термины и определения совпадают с рекомендациями IEС, 50(901), 50 (901A), 556.
Символы
4πMs - Намагниченность насыщения (Гс)
ΔH - Ширина линии ФМР (Э)
ε' - Действительная часть комплексной диэлектрической проницаемости
tgδε - Тангенс угла диэлектрических потерь
gэфф - Фактор Ланде
Tc - Температура Кюри (oC)
ΔHk - Ширина линии резонанса спиновых волн (Э)
HАэфф - Эффективное поле магнитной анизотропии (кЭ)
αMs - Температурный коэффициент намагниченности насыщения (%•oC-1)
Hc - Коэрцитивная сила (Э)
Br - Остаточная намагниченность (Гс)
W - Водопоглощение (%)
ρ - Кажущаяся плотность (г/см3)
Намагниченность насыщения, 4πMs
Наибольшая величина намагниченности (магнитный момент объема материала) для конкретного материала при данной температуре.
Величина намагниченности насыщения вычисляется как Ms=ms•ρi/P, где:
ms - магнитный момент испытываемого образца (сферы диаметром 1,0 ... 1,5 мм);
ρi– кажущаяся плотность материала;
P - масса образца.
Магнитный момент определяется методом вибрационного магнетометра с автокомпенсацией при постоян-ной температуре, в постоянном магнитном поле 8 кЭ.
Погрешность определения 4πMs не более ± 2,5%.
Ширина линии ферромагнитного резонанса на уровне минус 3 дБ, ΔH
Разница двух значений напряженности магнитного поля, при которых мощность, поглощаемая ферритовым материалом, составляет половину от максимального поглощения. Измерение ширины линии ферромагнитного резонанса и эффективного фактора Ланде, gэфф, выполня¬ется резонаторным методом на частоте 9,4 ГГц на сферах. Напряженность поля, соответствующая максимуму поглощения, называется резонансной (Hr) и используется для вычисления g-фактора по формуле:
gэфф=2πfo/kHr, где
fo - частота ФМР (c-1);
k=e/2mc (e и m - электрический заряд и масса электрона, c - скорость света);
Hr - напряженность резонансного магнитного поля (Э).
Погрешность измерения ±(5+2/ΔH)%
Комплексная диэлектрическая проницаемость, ε. Тангенс угла диэлектрических потерь, tgδε
ε=ε’+jε’’, tgδε=ε”/ε’, где: ε’ - действительная часть диэлектрической проницаемости; ε” - мнимая часть.
Измерение комплексной диэлектрической проницаемости проводится согласно стандарта Международной Электротехнической комиссии (публикация 556, 1982 г.). Используется цилиндрический резонатор ТМ010 на частоте 9,4 ГГц и контрольные образцы размером 1,12 х 1,12 х 18 мм.
Погрешность измерения ε’=±3%; ε”=±(10+ 0,06/ε”)%.
Эффективное поле анизотропии, HАэфф
Измерение поля анизотропии проводится резонансным методом на сферах в диапазоне частот 53 – 78 ГГц или на Е-пластинах в диапазоне 78 – 120 ГГц.
Погрешность измерений HАэфф±(5+5•ΔH/HАэфф)%.
Ширина линии резонанса спиновых волн, ΔHk
Характеризует предельный уровень СВЧ мощности, при котором начинается резкий рост потерь в ферритовом материале:
ΔHk=(4πMs•γ/2πf)hCmin, где:
hCmin - минимальная амплитуда СВЧ-поля, определяющая критический уровень мощности, при котором в феррите начинаются нелинейные явления (Э);
γ - гиромагнитное отношение (Э-1•с-1);
f - частота (Гц).
Ширина линии резонанса спиновых волн измеряется на сферах при параллельной накачке. В зависимости от ожидаемой величины ΔHk используется либо полый резонатор, либо открытый диэлектрический резонатор. СВЧ-сигнал 9,4 ГГц подается импульсами длительностью 1мкс, 3 мкс или 5 мкс со скважностью q=2500.
Погрешность измерений ±15%.
Характеристики петли гистерезиса, Br, Hc
характеризуют петлю гистерезиса материала. Измеряются индукционным методом на коль¬цевых сердечниках. Испытания проводят в квазистационарном режиме перемагничивания на частоте 209 Гц при приложении Hm=5Hc.
Погрешность измерения Br, Hc составляет ±5%.
Ферритовые изделия могут поставляться как без обработки, так и с механической обработкой. Стандартная точность обработки изделий ± 0,1…0,01 мм.
Стандартная шероховатость Ra = 2,5…0,63.
Плоские поверхности изделий могут быть металлизированы (покрыты) серебром толщиной до 20 мкм.
Наименование марки | 4πMs (Гс) | ΔH(-3dB) (Э) | ε' | tgδ•104 | gэфф | Tc (oC) | ΔHk (Э) | Технические условия | Тип приемки |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
20СЧ10М | 1380±5% | 20 | 15.0±5% | 2 | 2.00±3% | 240 | 5 | ЕСКФ.750710.047 ТУ | ОТК |
20СЧ7 | 1280±5% | 36 | 15.1±5% | 2 | 2.00±3% | 225 | 6.5 | ПЯО.707.484 ТУ | ОТК |
30СЧ10 | 1150±5% | 40 | 15.1±5% | 2 | 2.00±3% | 230 | 7 | ПЯО.707.470 ТУ | ОТК |
30СЧ11М | 1220±5% | 20 | 14.9±5% | 2 | 2.00±3% | 220 | 3 | ЕСКФ.750710.048 ТУ | ОТК |
30СЧ14 | 1200±5% | 35 | 15.0±5% | 2 | 2.01±3% | 220 | 10 | ЕСКФ.750710.046 ТУ | ОТК |
40СЧ6М | 1850±5% | 55 | 15.0±5% | 2 | 2.01±3% | 210 | 10 | ЕСКФ.750710.012 ТУ | ОТК |
50СЧ1М | 630±5% | 48 | 14.6±5% | 2 | 2.01±3% | 150 | 14 | ЕСКФ.750710.033 ТУ | ОТК |
50СЧ3 | 570±5% | 85* | 14.0±5% | 3 | 2.01±3% | 210 | 2 | ПЯО.707.332 ТУ | ОТК |
60СЧ1М | 450±25 | 48 | 14.5±5% | 2 | 2.02±3% | 215 | 13 | ЕСКФ.750710.013 ТУ | ОТК |
70СЧ1 | 400±25 | 95 | 14.5±5% | 2 | 2.03±3% | 160 | 13 | - | ОТК |
Частота измерения ΔH, ΔHk, ε', tgδ - 9.4 ГГц.
* ΔH – 3ГГц
Гранаты этой группы имеют малые потери и высокую термостабильность намагниченности насыщения, разработаны для использования в невзаимных приборах среднего уровня мощности.