120 лет трудовых побед и свершений
120 лет
трудовых побед и свершений

Термины и определения совпадают с рекомендациями IEС, 50(901), 50 (901A), 556.

Символы

4πMs - Намагниченность насыщения (Гс)

ΔH - Ширина линии ФМР (Э)

ε' - Действительная часть комплексной диэлектрической проницаемости

tgδε - Тангенс угла диэлектрических потерь

gэфф - Фактор Ланде

Tc - Температура Кюри (oC)

ΔHk - Ширина линии резонанса спиновых волн (Э)

HАэфф - Эффективное поле магнитной анизотропии (кЭ)

αMs - Температурный коэффициент намагниченности насыщения (%•oC-1)

Hc - Коэрцитивная сила (Э)

Br - Остаточная намагниченность (Гс)

W - Водопоглощение (%)

ρ - Кажущаяся плотность (г/см3)

Намагниченность насыщения, 4πMs

Наибольшая величина намагниченности (магнитный момент объема материала) для конкретного материала при данной температуре.

Величина намагниченности насыщения вычисляется как Ms=ms•ρi/P, где:

ms - магнитный момент испытываемого образца (сферы диаметром 1,0 ... 1,5 мм);

ρi– кажущаяся плотность материала;

P - масса образца.

Магнитный момент определяется методом вибрационного магнетометра с автокомпенсацией при постоян-ной температуре, в постоянном магнитном поле 8 кЭ.

Погрешность определения 4πMs не более ± 2,5%.

Ширина линии ферромагнитного резонанса на уровне минус 3 дБ, ΔH

Разница двух значений напряженности магнитного поля, при которых мощность, поглощаемая ферритовым материалом, составляет половину от максимального поглощения. Измерение ширины линии ферромагнитного резонанса и эффективного фактора Ланде, gэфф, выполня¬ется резонаторным методом на частоте 9,4 ГГц на сферах. Напряженность поля, соответствующая максимуму поглощения, называется резонансной (Hr) и используется для вычисления g-фактора по формуле:

gэфф=2πfo/kHr, где

fo - частота ФМР (c-1);

k=e/2mc (e и m - электрический заряд и масса электрона, c - скорость света);

Hr - напряженность резонансного магнитного поля (Э).

Погрешность измерения ±(5+2/ΔH)%

Комплексная диэлектрическая проницаемость, ε. Тангенс угла диэлектрических потерь, tgδε

ε=ε’+jε’’, tgδε=ε”/ε’, где: ε’ - действительная часть диэлектрической проницаемости; ε” - мнимая часть.

Измерение комплексной диэлектрической проницаемости проводится согласно стандарта Международной Электротехнической комиссии (публикация 556, 1982 г.). Используется цилиндрический резонатор ТМ010 на частоте 9,4 ГГц и контрольные образцы размером 1,12 х 1,12 х 18 мм.

Погрешность измерения ε’=±3%; ε”=±(10+ 0,06/ε”)%.

Эффективное поле анизотропии, HАэфф

Измерение поля анизотропии проводится резонансным методом на сферах в диапазоне частот 53 – 78 ГГц или на Е-пластинах в диапазоне 78 – 120 ГГц.

Погрешность измерений HАэфф±(5+5•ΔH/HАэфф)%.

Ширина линии резонанса спиновых волн, ΔHk

Характеризует предельный уровень СВЧ мощности, при котором начинается резкий рост потерь в ферритовом материале:

ΔHk=(4πMs•γ/2πf)hCmin, где:

hCmin - минимальная амплитуда СВЧ-поля, определяющая критический уровень мощности, при котором в феррите начинаются нелинейные явления (Э);

γ - гиромагнитное отношение (Э-1•с-1);

f - частота (Гц).

Ширина линии резонанса спиновых волн измеряется на сферах при параллельной накачке. В зависимости от ожидаемой величины ΔHk используется либо полый резонатор, либо открытый диэлектрический резонатор. СВЧ-сигнал 9,4 ГГц подается импульсами длительностью 1мкс, 3 мкс или 5 мкс со скважностью q=2500.

Погрешность измерений ±15%.

Характеристики петли гистерезиса, Br, Hc

характеризуют петлю гистерезиса материала. Измеряются индукционным методом на коль¬цевых сердечниках. Испытания проводят в квазистационарном режиме перемагничивания на частоте 209 Гц при приложении Hm=5Hc.

Погрешность измерения Br, Hc составляет ±5%.

Ферритовые изделия могут поставляться как без обработки, так и с механической обработкой. Стандартная точность обработки изделий ± 0,1…0,01 мм.

Стандартная шероховатость Ra = 2,5…0,63.

Плоские поверхности изделий могут быть металлизированы (покрыты) серебром толщиной до 20 мкм.

Наименование марки 4πMs (Гс) ΔH(-3dB) (Э) ε' tgδ•104 gэфф Tc (oC) ΔHk (Э) Технические условия Тип приемки
20СЧ10М 1380±5% 20 15.0±5% 2 2.00±3% 240 5 ЕСКФ.750710.047 ТУ ОТК
20СЧ7 1280±5% 36 15.1±5% 2 2.00±3% 225 6.5 ПЯО.707.484 ТУ ОТК
30СЧ10 1150±5% 40 15.1±5% 2 2.00±3% 230 7 ПЯО.707.470 ТУ ОТК
30СЧ11М 1220±5% 20 14.9±5% 2 2.00±3% 220 3 ЕСКФ.750710.048 ТУ ОТК
30СЧ14 1200±5% 35 15.0±5% 2 2.01±3% 220 10 ЕСКФ.750710.046 ТУ ОТК
40СЧ6М 1850±5% 55 15.0±5% 2 2.01±3% 210 10 ЕСКФ.750710.012 ТУ ОТК
50СЧ1М 630±5% 48 14.6±5% 2 2.01±3% 150 14 ЕСКФ.750710.033 ТУ ОТК
50СЧ3 570±5% 85* 14.0±5% 3 2.01±3% 210 2 ПЯО.707.332 ТУ ОТК
60СЧ1М 450±25 48 14.5±5% 2 2.02±3% 215 13 ЕСКФ.750710.013 ТУ ОТК
70СЧ1 400±25 95 14.5±5% 2 2.03±3% 160 13 - ОТК

    Частота измерения ΔH, ΔHk, ε', tgδ - 9.4 ГГц.
    * ΔH – 3ГГц

    Гранаты этой группы имеют малые потери и высокую термостабильность намагниченности насыщения, разработаны для использования в невзаимных приборах среднего уровня мощности.

    Качественный сервис и изготовление продукции для Ваших задач