120 лет трудовых побед и свершений
120 лет
трудовых побед и свершений

Термины и определения совпадают с рекомендациями IEС, 50(901), 50 (901A), 556.

Символы

4πMs - Намагниченность насыщения (Гс)

ΔH - Ширина линии ФМР (Э)

ε' - Действительная часть комплексной диэлектрической проницаемости

tgδε - Тангенс угла диэлектрических потерь

gэфф - Фактор Ланде

Tc - Температура Кюри (oC)

ΔHk - Ширина линии резонанса спиновых волн (Э)

HАэфф - Эффективное поле магнитной анизотропии (кЭ)

αMs - Температурный коэффициент намагниченности насыщения (%•oC-1)

Hc - Коэрцитивная сила (Э)

Br - Остаточная намагниченность (Гс)

W - Водопоглощение (%)

ρ - Кажущаяся плотность (г/см3)

Намагниченность насыщения, 4πMs

Наибольшая величина намагниченности (магнитный момент объема материала) для конкретного материала при данной температуре.

Величина намагниченности насыщения вычисляется как Ms=ms•ρi/P, где:

ms - магнитный момент испытываемого образца (сферы диаметром 1,0 ... 1,5 мм);

ρi– кажущаяся плотность материала;

P - масса образца.

Магнитный момент определяется методом вибрационного магнетометра с автокомпенсацией при постоян-ной температуре, в постоянном магнитном поле 8 кЭ.

Погрешность определения 4πMs не более ± 2,5%.

Ширина линии ферромагнитного резонанса на уровне минус 3 дБ, ΔH

Разница двух значений напряженности магнитного поля, при которых мощность, поглощаемая ферритовым материалом, составляет половину от максимального поглощения. Измерение ширины линии ферромагнитного резонанса и эффективного фактора Ланде, gэфф, выполня¬ется резонаторным методом на частоте 9,4 ГГц на сферах. Напряженность поля, соответствующая максимуму поглощения, называется резонансной (Hr) и используется для вычисления g-фактора по формуле:

gэфф=2πfo/kHr, где

fo - частота ФМР (c-1);

k=e/2mc (e и m - электрический заряд и масса электрона, c - скорость света);

Hr - напряженность резонансного магнитного поля (Э).

Погрешность измерения ±(5+2/ΔH)%

Комплексная диэлектрическая проницаемость, ε. Тангенс угла диэлектрических потерь, tgδε

ε=ε’+jε’’, tgδε=ε”/ε’, где: ε’ - действительная часть диэлектрической проницаемости; ε” - мнимая часть.

Измерение комплексной диэлектрической проницаемости проводится согласно стандарта Международной Электротехнической комиссии (публикация 556, 1982 г.). Используется цилиндрический резонатор ТМ010 на частоте 9,4 ГГц и контрольные образцы размером 1,12 х 1,12 х 18 мм.

Погрешность измерения ε’=±3%; ε”=±(10+ 0,06/ε”)%.

Эффективное поле анизотропии, HАэфф

Измерение поля анизотропии проводится резонансным методом на сферах в диапазоне частот 53 – 78 ГГц или на Е-пластинах в диапазоне 78 – 120 ГГц.

Погрешность измерений HАэфф±(5+5•ΔH/HАэфф)%.

Ширина линии резонанса спиновых волн, ΔHk

Характеризует предельный уровень СВЧ мощности, при котором начинается резкий рост потерь в ферритовом материале:

ΔHk=(4πMs•γ/2πf)hCmin, где:

hCmin - минимальная амплитуда СВЧ-поля, определяющая критический уровень мощности, при котором в феррите начинаются нелинейные явления (Э);

γ - гиромагнитное отношение (Э-1•с-1);

f - частота (Гц).

Ширина линии резонанса спиновых волн измеряется на сферах при параллельной накачке. В зависимости от ожидаемой величины ΔHk используется либо полый резонатор, либо открытый диэлектрический резонатор. СВЧ-сигнал 9,4 ГГц подается импульсами длительностью 1мкс, 3 мкс или 5 мкс со скважностью q=2500.

Погрешность измерений ±15%.

Характеристики петли гистерезиса, Br, Hc

характеризуют петлю гистерезиса материала. Измеряются индукционным методом на коль¬цевых сердечниках. Испытания проводят в квазистационарном режиме перемагничивания на частоте 209 Гц при приложении Hm=5Hc.

Погрешность измерения Br, Hc составляет ±5%.

Ферритовые изделия могут поставляться как без обработки, так и с механической обработкой. Стандартная точность обработки изделий ± 0,1…0,01 мм.

Стандартная шероховатость Ra = 2,5…0,63.

Плоские поверхности изделий могут быть металлизированы (покрыты) серебром толщиной до 20 мкм.

Наименование марки 4πMs (Гс) ΔH(-3dB) (Э) ε' tgδ•104 gэфф Tc (oC) ΔHk (Э) Технические условия Тип приемки
15СЧ6 1600±5% 10 15.0±5% 1.5 2±3% 220 1.0 ЕСКФ.750710.063 ТУ ОТК
15СЧ6v 1600±5% 10 14.8±5% 2 2±3% 220 1.0 ЕСКФ.750710.007 ТУ ОТК
15СЧ6vs 1600±5% 6 14.6±5% 1.5 2±3% 220 1.0 ЕСКФ.750710.065 ТУ ОТК
15СЧ8v 1500±5% 10 14.9±5% 2 2±3% 215 1.0 - ОТК
15СЧ8vs 1500±5% 6 14.9±5% 1.5 2±3% 215 1.0 - ОТК
25СЧv 1400±5% 10 14.5±5% 2 2±3% 215 1.0 ЕСКФ.750710.008 ТУ ОТК
25СЧvs 1400±5% 6 14.5±5% 1.5 2±3% 215 1.0 ЕСКФ.750710.064 ТУ ОТК
35СЧv 1200±5% 10 14.5±5% 2 2±3% 208 1.0 ЕСКФ.750710.002 ТУ ОТК
35СЧvs 1200±5% 6 14.5±5% 1.5 2±3% 208 1.0 - ОТК
40СЧ7v 1100±5% 10 14.3±5% 2 2±3% 205 1.0 ЕСКФ.750710.009 ТУ ОТК
40СЧ7vs 1100±5% 6 14.2±5% 1.5 2±3% 205 1.0 - ОТК
45СЧv 1000±5% 10 14.2±5% 2 2±3% 200 1.0 ЕСКФ.750710.003 ТУ ОТК
45СЧvs 1000±5% 6 14.2±5% 1.5 2±3% 200 1.0 - ОТК
55СЧv 800±5% 15 14.0±5% 2 2±3% 190 1.0 ЕСКФ.750710.037 ТУ ОТК
55СЧvs 800±5% 8 14.0±5% 1.5 2±3% 190 1.0 - ОТК
85СЧ 520±5% 10 13.9±5% 2 2±3% 120 1.5 - ОТК
85СЧv 570±5% 10 14.1±5% 2 2±3% 130 1.5 - ОТК
9СЧ 1900±5% 14 15.0±5% 2 2±3% 215 1.0 ПЯО.707.575 ТУ ОТК
9СЧ1 1950±5% 20 15.0±5% 2 2±3% 235 1.0 ЕСКФ.750710.005 ТУ ОТК
9СЧ1s 1950±5% 12 15.0±5% 1.5 2±3% 235 1.0 ЕСКФ.750710.066 ТУ ОТК
9СЧs 1900±5% 8 15.0±5% 1.5 2±3% 215 1.0 - ОТК
9СЧv 1850±5% 10 14.8±5% 2 2±3% 215 1.0 ЕСКФ.750710.006 ТУ ОТК
9СЧvs 1850±5% 6 14.8±5% 1.5 2±3% 215 1.0 ЕСКФ.750710.062 ТУ ОТК

    Частота измерения ΔH, ΔHk, ε', tgδ - 9.4 ГГц.

    Результаты измерений ΔH(-3dB) получены на полированных сферах.

    Гранаты марки СЧ и СЧv имеют узкую линию ФМР, наиболее подходят для применения в  сверхвысокочастотных приборах (включая криогенные), имеющих малые потери в широкой области  частот и температур.

    Гранаты марки СЧs и СЧvs характеризуются самой узкой из всех серий гранатов   линией ФМР. Они предназначены для сверхвысокочастотных приборов с чрезвычайно   малыми потерями. Обеспечивают наиболее широкую полосу частот при   применении в нерезонансных приборах.

    Качественный сервис и изготовление продукции для Ваших задач